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Air Stable Cross-Linked Cytop Ultrathin Gate Dielectric for High Yield Low-Voltage Top-Gate Organic Field-Effect Transistors

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Descripción
Autoría

autor: Mario Caironi  Yong-Young Noh  Henning Sirringhaus  He Yan  Antonio Facchetti 

Fecha de publicación 23 de febrero de 2010
Idioma
País de origen
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