Charged Defect Quantification in Pt∕Al2O3∕In0.53Ga0.47As∕InP MOS Capacitors
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría | |
| Fecha de publicación | 2011 |
| Idioma | |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Public domain |
| ¿Datos faltantes/errados? | Editar ítem de Wikidata |