Transmission electron microscopy and Raman measurements of the misfit stress in a Si tensile strained layer
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Vincent Paillard |
| Fecha de publicación | 9 de febrero de 2004 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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