Results of the 2015 testbeam of a 180 nm AMS High-Voltage CMOS sensor prototype
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| Autoría |
autor: Francesco Lanni Kai-Feng Chen Daniel Matthias Alfred Muenstermann Joost Herman Vossebeld Tobias Golling Giuseppe Iacobucci Mathieu Benoit Lailin Xu Sergio Gonzalez-Sevilla Marco Rimoldi Didier Ferrere Marzio Nessi |
| Fecha de publicación | 21 de julio de 2016 |
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