Evaluation of the effect of different paint cross section preparation methods on the performances of Fourier transformed infrared microscopy in total reflection mode - Dominio Público Uruguay

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Evaluation of the effect of different paint cross section preparation methods on the performances of Fourier transformed infrared microscopy in total reflection mode

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: septiembre 2013

Idioma: Desconocido

País de origen: Desconocido

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