Measurement of the critical thickness of ZnCdSe quantum wells in ZnSe barrier layers by the piezoelectric effect

Imagen
Descripción
Autoría	autor: Bernhard Urbaszek  Ian Galbraith
Fecha de publicación	23 de noviembre de 1998
Idioma	inglés
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor	Desconocido
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata