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Optical absorption measurement at 1550 nm on a highly-reflective Si/SiO2coating stack

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Descripción
Autoría

autor: Alexander Khalaidovski  Jessica Steinlechner  Roman Schnabel 

Fecha de publicación 29 de abril de 2014
Idioma inglés
País de origen
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https://archive.org/details/arxiv-1401.4916

Estatus de derecho de autor Private domain
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