EPR identification of intrinsic defects in SiC
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría |
autor: Takeshi Ohshima Norikazu Mizuochi Nguyen Tien Son Erik Janzén |
| Fecha de publicación | julio 2008 |
| Idioma | |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
| ¿Datos faltantes/errados? | Editar ítem de Wikidata |