Experimental Verification of Scan-Architecture-Based Evaluation Technique of SET and SEU Soft-Error Rates at Each Flip-Flop in Logic VLSI Systems - Dominio Público Uruguay

¿Datos faltantes/incorrectos? Editar elemento de Wikidata

Imagen de una obra genérica. El texto sobre ella indica que no hay disponible una imagen libre de la obra, y que si posees una, puedes hacer clic en el enlace del cartel para subirla.

Experimental Verification of Scan-Architecture-Based Evaluation Technique of SET and SEU Soft-Error Rates at Each Flip-Flop in Logic VLSI Systems

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: agosto 2009

Idioma: Desconocido

País de origen: Desconocido

Estado de los derechos de autor

Dominio público

Dominio Público Uruguay cuenta con el apoyo de:

Acerca de Dominio Público Uruguay

Ayuda

Documentación