Using Intrinsic Defect Spectra in 4H SiC as Imbedded Thermometers in the Temperature Range from 100°C to 1500°C
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Takeshi Ohshima |
| Fecha de publicación | marzo 2011 |
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| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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