Defects in an Electron-Irradiated 6H-SiC Diode Studied by Alpha Particle Induced Charge Transient Spectroscopy: Their Impact on the Degraded Charge Collection Efficiency

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Autoría	autor: Takeshi Ohshima  Kazutoshi Kojima
Fecha de publicación	mayo 2012
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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