Defect levels in low-doped 4H-SiC Schottky barrier diodes detected by using alpha particles

Imagen
Descripción
Autoría	autor: Takeshi Ohshima
Fecha de publicación	diciembre 2012
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor	Desconocido
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata