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Radiation tolerance of the FOXFET biasing scheme for AC-coupled Si microstrip detectors

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Descripción
Autoría

autor: Nicola Bacchetta  Giovanni Verzellesi  Dario D. Bisello  Yuri N. Gotra 

Fecha de publicación 1993
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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