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Noise Characterization of 130 nm and 90 nm CMOS Technologies for Analog Front-end Electronics

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Descripción
Autoría

autor: Lodovico Ratti  Valerio Re  Gianluca Traversi  Massimo Manghisoni 

Fecha de publicación 2006
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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