Impurity Segregation via Extended Defects in Oxide Thin Films Probed by Aberration-Corrected STEM-EELS
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Lena F Kourkoutis Harold Y. Hwang |
| Fecha de publicación | julio 2016 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Private domain |
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