Beam test of a large area n-on-n silicon strip detector with fast binary readout electronics
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría |
autor: Yoshinobu Unno Tim Patrick Dubbs Ryuichi Takashima James L. Siegrist Hiroyuki Iwasaki Alexander Angelo Grillo Gareth F. Moorhead Carl Haber Susumu Terada Takahiko Kondo Murdock Gordon D. Gilchriese Takashi Ohsugi Edwin Spencer Takashi Kohriki Hartmut Sadrozinski Marjorie Shapiro Alessandra Ciocio |
| Fecha de publicación | junio 1997 |
| Idioma | |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
| ¿Datos faltantes/errados? | Editar ítem de Wikidata |