Atomic force microscopy: Loading position dependence of cantilever spring constants and detector sensitivity
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría |
autor: Derek Y C Chan Geoffrey W. Stevens Ivan U Vakarelski Raymond R. Dagastine Franz Grieser |
| Fecha de publicación | 1 de noviembre de 2007 |
| Idioma | |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
| ¿Datos faltantes/errados? | Editar ítem de Wikidata |