Radiation hardness tests and characterization of the CLARO-CMOS, a low power and fast single-photon counting ASIC in 0.35micron CMOS technology
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Mirco Andreotti Wander Baldini Roberto Calabrese M Fiorini Claudio Gotti A Giachero Eleonora Luppi |
| Fecha de publicación | diciembre 2014 |
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| País de origen | |
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