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Characterization of the density of states of polymorphous silicon films produced at 13.56 and 27.12 MHz using CPM and SCLC techniques

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Descripción
Autoría

autor: Ferreira I.  Leandro Raniero  Elvira Fortunato  H Águas  Luís Pereira 

Fecha de publicación junio 2004
Idioma
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