Interval Simulated Annealing applied to Electrical Impedance Tomography image reconstruction with fast objective function evaluation

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Descripción
Autoría	autor: Raul Gonzalez Lima  Marcelo Britto Passos Amato  Thiago de Castro Martins
Fecha de publicación	septiembre 2016
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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