Tests of the radiation hardness of VLSI integrated circuits and silicon strip detectors for the SSC under neutron, proton, and gamma irradiation
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: John Anthony Ellison Stephen J. Wimpenny Daniel Pitzl Phillip Ferguson Edwin Spencer Hartmut Sadrozinski Paolo Giubellino Abraham Seiden Nicolo Cartiglia |
| Fecha de publicación | abril 1991 |
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| País de origen | |
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