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Radiation damage studies of silicon microstrip sensors

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Descripción
Autoría

autor: Bjarne Stugu  Yoshinobu Unno  Ryuichi Takashima  Makoto Shimojima  Yoichi Ikegami  Shaun A. Roe  Susumu Terada  Itsuo Nakano  Takahiko Kondo  Lars Gimmestad Johansen  Takashi Ohsugi  Takashi Kohriki  Kazuhiko Hara  Steinar Stapnes 

Fecha de publicación 2000
Idioma
País de origen
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