Electric-field-induced lattice distortion in epitaxial BiFeO3 thin films as determined by in situ time-resolved x-ray diffraction

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Descripción
Autoría	autor: Osami Sakata  Yasuhiko Imai  Hiroshi Funakubo  Takao Shimizu
Fecha de publicación	21 de agosto de 2017
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Private domain
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