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Exchange bias in a ferromagnetic semiconductor induced by a ferromagnetic metal: Fe/(Ga,Mn)As bilayer films studied by XMCD measurements and SQUID magnetometry

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Descripción
Autoría

autor: Elke Arenholz  Sarnjeet S. Dhesi  Tom Foxon  Tomáš Jungwirth  Joerg Wunderlich  Gerrit Van Der Laan  Peter Wadley 

Fecha de publicación 3 de marzo de 2010
Idioma inglés
País de origen
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