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Polarized x-ray spectroscopy of quaternary ferromagnetic semiconductor (Ga,Mn)(As,P) thin films

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Descripción
Autoría

autor: Elke Arenholz  Gerrit Van Der Laan  Peter Wadley 

Fecha de publicación 11 de julio de 2011
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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