Structure characterization of hard materials by precession electron diffraction and automatic diffraction tomography: 6H–SiC semiconductor and Ni1+xTe1embedded nanodomains
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Ute Kolb Enrico Mugnaioli |
| Fecha de publicación | 1 de agosto de 2012 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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