Structure characterization of hard materials by precession electron diffraction and automatic diffraction tomography: 6H–SiC semiconductor and Ni1+xTe1embedded nanodomains - Dominio Público Uruguay

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Structure characterization of hard materials by precession electron diffraction and automatic diffraction tomography: 6H–SiC semiconductor and Ni1+xTe1embedded nanodomains

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 1 de agosto de 2012

Idioma: Desconocido

País de origen: Desconocido

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