Correction to Weakly Trapped, Charged, and Free Excitons in Single-Layer MoS in the Presence of Defects, Strain, and Charged Impurities
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Nedjma Bendiab Yannick J Dappe Toai Le Quang Vincent Bouchiat Johann Coraux Laurence Magaud Jean-Yves Veuillen Laëtitia Marty Vladimir Cherkez Felix Herziger Simone Lisi Kenji Watanabe Raul Arenal Goutham Nayak Sudipta Dubey Takashi Taniguchi |
| Fecha de publicación | 23 de octubre de 2018 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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