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Radiation tolerance of single-sided silicon microstrips

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Descripción
Autoría

autor: Peter Booth  Stephen J. Watts  Eleuterio Spiriti  Karl Aaron Gill  Shaun A. Roe  Michał Turała  Pierre Delpierre  Dario D. Bisello  Ivan Mikulec  Dimitris Loukas  Hans-Guenther Moser  Leonid Kurchaninov  Manfred Krammer  Katerina Zachariadou  Paolo Giubellino  Pawel Grybos  Richard Brenner  M Idzik  Władysław Dąbrowski  Philip P. Allport 

Fecha de publicación febrero 1994
Idioma
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