Preparation of an Ultraclean and Atomically Controlled Hydrogen-Terminated Si(111)-(1× 1) Surface Revealed by High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy, Atomic Force Microscopy, and Scanning Tunneling Microscopy: Aqueous NH4F Etching Process - Dominio Público Uruguay

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Preparation of an Ultraclean and Atomically Controlled Hydrogen-Terminated Si(111)-(1× 1) Surface Revealed by High Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy, Atomic Force Microscopy, and Scanning Tunneling Microscopy: Aqueous NH4F Etching Process

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 7 de septiembre de 2007

Idioma: Desconocido

País de origen: Desconocido

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