Testing of bulk radiation damage of n-in-p silicon sensors for very high radiation environments
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: David Robinson Miho Yamada Yoshinobu Unno Valentine O'Shea Jack Wright Marcela Mikestikova Ulrich Parzefall Jan Bohm Harald Fox Alexander Angelo Grillo Konstantin Toms David Puldon Sergio Gonzalez-Sevilla Richard L. Bates Yoichi Ikegami Susumu Terada Alexandre Chilingarov Robert L. McCarthy Sally C. Seidel Janet R. Carter Burton J. DeWilde Karl Jakobs Vladimir Cindro Igor Gorelov Stathes Paganis Didier Ferrere Jessica E. Metcalfe Takashi Kohriki Dimitra Tsionou Mercedes Miñano Moya Igor Mandić Hartmut Sadrozinski Kazuhiko Hara Gregor Kramberger Carlos Lacasta Zdeněk Doležal Lars Eklund Richard French Christopher Betancourt Peter Kodyš Allan G. Clark Abraham Seiden Marko Mikuž Shingo Mitsui David Lynn Martin Hoeferkamp Craig Buttar Philip P. Allport |
| Fecha de publicación | abril 2011 |
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| País de origen | |
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