The dramatic effect of the annealing temperature and dielectric functionalization on the electron mobility of indene-C60 bis-adduct thin films

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Descripción
Autoría	autor: Wassima Rekab  Karl Börjesson
Fecha de publicación	1 de marzo de 2015
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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