Understanding and Optimization of Hot-Carrier Reliability in Germanium-on-Silicon pMOSFETs
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Paolo Magnone V. Ramgopal Rao Montserrat Nafria Esteve Amat Felice Crupi Debabrata Maji Gino Giusi Calogero Pace |
| Fecha de publicación | mayo 2009 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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