Facet analysis of truncated pyramid semi-polar GaN grown on Si(100) with rare-earth oxide interlayer
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Tomas Grinys Kazimieras Badokas Sandra Stanionytė Martin Frentrup Tadas Malinauskas |
| Fecha de publicación | 8 de septiembre de 2016 |
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| País de origen | |
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| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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