Resistance and dopant profiling along freestanding GaAs nanowires
| Imagen |  |
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| Descripción | |
| Autoría |
autor: Werner Prost Thomas Hannappel Stefan Korte Bert Voigtländer Vasily Cherepanov |
| Fecha de publicación | 30 de septiembre de 2013 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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