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Controlled crack propagation for atomic precision handling of wafer-scale two-dimensional materials

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Descripción artículo científico publicado en 2018
Autoría

autor: Hanwool Yeon  Jaewoo Shim  Guanyu Zhou  Chanyeol Choi  Christopher L Hinkle  Ruoyu Yue  Yong Ju Park  Hyun S Kum  Kyusang Lee  Jagadeesh Moodera  Yunbo Ou  Jong-Hyun Ahn  Suresh Sundaram  Doyoon Lee  Daniel Nezich 

Fecha de publicación 11 de octubre de 2018
Idioma inglés
País de origen
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