Analysis of thin high-k and silicide films by means of heavy ion time-of-flight forward-scattering spectrometry

Imagen
Descripción
Autoría	autor: Kai Arstila  Timo Sajavaara  André Vantomme
Fecha de publicación	agosto 2006
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor	Private domain
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata