Aberration-corrected transmission electron microscopy analyses of GaAs/Si interfaces in wafer-bonded multi-junction solar cells
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría |
autor: Rafal E. Dunin-Borkowski Lothar Houben Stephanie Essig |
| Fecha de publicación | noviembre 2013 |
| Idioma | |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Private domain |
| ¿Datos faltantes/errados? | Editar ítem de Wikidata |