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Comparison of Scanning Ion Conductance Microscopy with Atomic Force Microscopy for Cell Imaging

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Descripción artículo científico publicado en 2010
Autoría

autor: Tilman E Schäffer  Johannes Rheinlaender 

Fecha de publicación 15 de diciembre de 2010
Idioma inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor Private domain
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