Methodology for studying strain inhomogeneities in polycrystalline thin films duringin situthermal loading using coherent x-ray diffraction
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | |
| Autoría |
autor: Jozef Keckes Henry Proudhon Olivier Thomas C Kirchlechner Samuel Forest S Ravy |
| Fecha de publicación | 31 de marzo de 2010 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Private domain |
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