Effect of film thickness and annealing on optical properties of TiO2 thin films and electrical characterization of MOS capacitors

Imagen
Descripción
Autoría
Fecha de publicación	31 de julio de 2014
Idioma
País de origen
Enlace a Wikipedia
Estatus de derecho de autor	Public domain
¿Datos faltantes/errados?	Editar ítem de Wikidata