Breakdown of metallic single-wall carbon nanotube paths by NiO nanoparticle point etching for high performance thin film transistors

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Descripción
Autoría	autor: Don N Futaba  Shunsuke Sakurai  Kenji Hata  Shisheng Li
Fecha de publicación	28 de enero de 2015
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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