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Characterization of Nd2−xCexCuO4±δ (x = 0 and 0.15) Ultrathin Films Grown by DC Sputtering Technique

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Descripción
Autoría

autor: Gaia Grimaldi  Antonio Vecchione 

Fecha de publicación junio 2017
Idioma
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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