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Characterization of an Ionization Readout Tile for nEXO

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Descripción artículo científico publicado en 2018
Autoría

autor: Samuele Sangiorgio  Venkatesh Veeraraghavan  Thomas Koffas  Veljko Radeka  Jens Dilling  Sergio Rescia  William M. Fairbank, Jr.  M. Jewell  Thomas Brunner  Richard Saldanha  Frédéric Nolet  Liangjian Wen 

Fecha de publicación 10 de enero de 2018
Idioma
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Estatus de derecho de autor Desconocido
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