Applications of Microstructured Silicon Wafers as Internal Reflection Elements in Attenuated Total Reflection Fourier Transform Infrared Spectroscopy

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Descripción	artículo científico publicado el 1 de septiembre de 2010
Autoría	autor: Klaus-Jochen Eichhorn  Johann W. Bartha
Fecha de publicación	1 de septiembre de 2010
Idioma	inglés
País de origen
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Acceder a la obra	http://journals.sagepub.com/doi/pdf/10.1366/000370210792434404
Estatus de derecho de autor	Desconocido
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