Wavefront metrology for coherent hard X-rays by scanning a microsphere.
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|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2016 |
| Autoría |
autor: Nilesh Patil Yuriy Chushkin |
| Fecha de publicación | 1 de mayo de 2016 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
| Enlace a Wikipedia | |
| Estatus de derecho de autor | Desconocido |
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