Comparison of Models and Whole-Genome Profiling Approaches for Genomic-Enabled Prediction of Septoria Tritici Blotch, Stagonospora Nodorum Blotch, and Tan Spot Resistance in Wheat

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Descripción	artículo científico publicado en 2017
Autoría	autor: Philomin Juliana  Gary C Bergstrom  Ravi Prakash Singh  Mark E Sorrells  Jessica Rutkoski  Jesse Poland
Fecha de publicación	1 de julio de 2017
Idioma
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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