Nanoscale Imaging of Charge Carrier and Exciton Trapping at Structural Defects in Organic Semiconductors - Dominio Público Uruguay

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Nanoscale Imaging of Charge Carrier and Exciton Trapping at Structural Defects in Organic Semiconductors

artículo científico publicado en 2016

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 19 de febrero de 2016

Idioma: inglés

País de origen: Desconocido

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