Patterned defect structures predicted for graphene are observed on single-layer silica films.
| Imagen |  |
|---|---|
| Descripción | artículo científico publicado en 2013 |
| Autoría |
autor: Hans-Joachim Freund Shamil Shaikhutdinov Jorge Anibal Boscoboinik |
| Fecha de publicación | 14 de agosto de 2013 |
| Idioma | inglés |
| País de origen | |
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