Thickness measurement of nanoscale polymer layer on polymer substrates by attenuated total reflection infrared spectroscopy

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Descripción	artículo científico publicado en 2005
Autoría	autor: Benxin Jing
Fecha de publicación	1 de febrero de 2005
Idioma	inglés
País de origen
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Estatus de derecho de autor	Desconocido
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