Quantitative Subsurface Atomic Structure Fingerprint for 2D Materials and Heterostructures by First-Principles-Calibrated Contact-Resonance Atomic Force Microscopy - Dominio Público Uruguay

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Quantitative Subsurface Atomic Structure Fingerprint for 2D Materials and Heterostructures by First-Principles-Calibrated Contact-Resonance Atomic Force Microscopy

artículo científico publicado en 2016

Autoría

Detalles de la obra

Fecha de publicación: 5 de junio de 2016

Idioma: inglés

País de origen: Desconocido

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